VM-L3U是将被测物件经由显微镜放大，透过目镜观察，并选取基准平面，对焦清晰后，将Z轴坐标值置零，然后调整到另一需要检测之平面，对焦清晰后读取Z轴显示之资料即为需要测量之高度或深度值。
●应用领域：精密模具、精密五金衡压件、刀刃具、晶片、
集体电路、半导体行业。
●200X100mm载物台，搭配德国HEIDENHAIN光学尺，
解析度为0.0001mm，可进行X,Y轴的精确测量。
●配备日本NIKON金相镜头系统，提升影像效果，给你高
解析的视觉影像。
●根据需求，提供明视野、暗视野、偏光、微分干涉装置。
●高NA值镜头，物镜光学倍率50X、100X、200X、500X、
1000X。
●高倍率镜头可做金相分析使用。
●Z轴多段式调节，可精确测量高度、深度。
温馨提示：因为镜头都会有其固定的景深范围，并且遵循倍率越小，景深越大；倍率越大，景深越小的原则，所以仔需要更高精度要求的时候，则需要选择更适合的镜头倍率。
光学理论
景深：摄像机镜头或其他成像器前沿就能够取得清晰图像的成像器轴线锁测定的物体距离范围，在聚焦完成后，焦点前后的范围内仍能够形成清晰的影像，这一前一后的距离，便叫做景深。
明视野（Bright Field Bf）：光线将物体照亮后，直接进入成像系统，使物体成像。
暗视野（Dark Field Df）：倾斜入射的光线完全进入成像系统，能进入成像系统的只是被受照物体平面的微粒散射或衍射的光线，成像后得到的是暗视野中的这些量的微粒影像。
微分干涉（DIC）：采用微分干涉相衬法观察样品，会看到明视野下所看不到的许多细节，以及仔明视野下难于判别的一些结构细节或缺陷，可通过微分干涉进行反差增强，继而更容易判断。