产品名称

X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110

发布时间 2018-03-13
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  • 产品描述
  • 产品参数

1.主机构成:

W靶材

* 比例计数管

* 一次滤波器+数位滤波器

* 准直器SFT-110

(Ф0.05mm,0.1mm,0.2mm,0.025*0.4mm)

* 三维电动样品台

* CCD摄相机

* 激光对焦

2.X-Ray Station 1式

* 测量软件:薄膜分析检量线法+薄膜分析FP法

* 能量强度自动校正功能

* 完整中文操作手册

* Excel报告导出功能

3.附件配置1式

4.一年保修1式

5.运输和包装费用1式

6.标准片(選配)


技术参数:

X射线照射方向:上方照射式

测量元素:Ti~Bi

测定环境:大气

X射线发生部:空冷小型X射线管球

管电流:最大1000μA 可变

1次滤波器:滤波器ON、OFF的2种类(自动切换)

X射线检测部:比例计数管

测定面积:φ0.05、φ0.1、φ0.2、0.025×0.4mm

最大样品质量:0kg最大样品面积:长500mm、宽400mm、高150mm

电动XY样品台驱动 移动范围:250×200mm

重复再现性:±5μm

速度:40mm/sec


东莞公司
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